Xradia Versa
La famille Xradia Versa de XRM submicronique utilise des détecteurs de rayons X brevetés dans une tourelle d’objectif de microscope pour permettre un grossissement accru sur divers types et tailles d’échantillons, et pousser la résolution spatiale jusqu’à 500 nm avec un minimum de voxels réalisables de <40 nm.
Voici le seul résultat